一种标准单元库时序逻辑电路功能验证方法 - 第十七届计算机工程与工艺年会暨第三届微处理器技术论坛.pdf

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2026-1-10 17:09 | 查看全部阅读模式

会议论文《一种标准单元库时序逻辑电路功能验证方法》提出了一种针对时序逻辑电路的功能验证方法，旨在提高标准单元库的验证效率与准确性。该方法通过分析电路时序特性，结合形式化验证技术，有效检测潜在时序错误。文章在第十七届计算机工程与工艺年会暨第三届微处理器技术论坛上发表，为集成电路设计提供了重要参考。

文档为pdf格式，1.08MB，总共5页。