一种片上存储器的可调试设计方法 - 第十七届计算机工程与工艺年会暨第三届微处理器技术论坛.pdf

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2026-1-10 17:08 | 查看全部 阅读模式

会议论文《一种片上存储器的可调试设计方法》提出了一种提高片上存储器可调试性的设计方法。该方法通过引入特定的调试机制和接口,增强了对存储器状态和行为的监控能力,有助于提高系统调试效率和可靠性。论文在第十七届计算机工程与工艺年会暨第三届微处理器技术论坛上发表,为嵌入式系统和微处理器设计提供了有价值的参考。

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一种片上存储器的可调试设计方法 - 第十七届计算机工程与工艺年会暨第三届微处理器技术论坛
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