会议论文《超声C扫描多闸门综合成像技术的研究》发表于第十届全国无损检测学术年会，探讨了多闸门技术在超声C扫描中的应用。该研究旨在提高缺陷识别的准确性和成像质量，通过优化信号处理与时间门控技术，实现对材料内部结构的更清晰成像，具有重要的工程应用价值。
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