热激电流(TSC)技术与ZnO压敏电阻直流老化实验 - 中国电子学会敏感技术分会电压敏专业学部第二十届电压敏学术年会.pdf

会议论文《热激电流(TSC)技术与ZnO压敏电阻直流老化实验》探讨了TSC技术在分析ZnO压敏电阻老化特性中的应用。通过直流老化实验，研究了材料在长期电压作用下的性能变化，为评估其稳定性和寿命提供了重要依据。该研究对提高压敏电阻的可靠性具有重要意义。

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热激电流(TSC)技术与ZnO压敏电阻直流老化实验 - 中国电子学会敏感技术分会电压敏专业学部第二十届电压敏学术年会.pdf

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