会议论文《时序驱动的低功耗扫描链重定序算法》发表于第十七届计算机工程与工艺年会暨第三届微处理器技术论坛。该文提出一种基于时序分析的扫描链重定序方法，旨在降低芯片测试过程中的动态功耗。通过优化扫描链中触发器的排列顺序，减少翻转活动，从而有效降低测试功耗。该算法在保证测试完备性的前提下，提升了系统能效，对低功耗设计具有重要意义。
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