会议论文《基于板内FPGA的RAM自动测试实现》发表于第十五届全国容错计算学术会议(CFTC13)。该文提出一种利用板内FPGA实现RAM自动测试的方法，通过硬件描述语言设计测试逻辑，提高测试效率与准确性。研究针对嵌入式系统中RAM的故障检测问题，提出了一种可集成于硬件平台的自动化测试方案，具有良好的实用性和推广价值。
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