基于STM32F3处理器的双耦合接地阻抗测量方法 - 第七届全国信号和智能信息处理与应用学术会议.pdf

会议论文《基于STM32F3处理器的双耦合接地阻抗测量方法》发表于第七届全国信号和智能信息处理与应用学术会议。该文提出一种利用STM32F3微控制器实现双耦合接地阻抗测量的新方法，提高了测量精度与效率，适用于电力系统及工业设备的接地检测。

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基于STM32F3处理器的双耦合接地阻抗测量方法 - 第七届全国信号和智能信息处理与应用学术会议.pdf

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