会议论文《900V半超结VDMOS元胞的仿真设计》探讨了高耐压功率器件的设计与优化。通过仿真方法对半超结VDMOS结构进行分析,研究其电场分布和击穿特性,旨在提高器件性能与可靠性。该研究为大功率半导体器件的发展提供了理论支持和技术参考。
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