基于C#语言.NET Framework平台的芯片测试中转系统 - 第十五届计算机工程与工艺年会暨第一届微处理器技术论坛.pdf

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2026-1-10 09:59 | 查看全部 阅读模式

会议论文《基于C#语言.NET Framework平台的芯片测试中转系统》探讨了在第十五届计算机工程与工艺年会暨第一届微处理器技术论坛上提出的芯片测试解决方案。该系统利用C#语言和.NET Framework平台,实现了高效、稳定的测试数据中转功能,提升了芯片测试流程的自动化水平和数据处理效率。

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基于C#语言.NET Framework平台的芯片测试中转系统 - 第十五届计算机工程与工艺年会暨第一届微处理器技术论坛
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