会议论文《现代纳米集成电路质子单粒子效应研究进展》发表于第一届全国辐射物理学术交流会(CRPS`2014)。该文系统综述了纳米集成电路在质子单粒子效应方面的研究现状,分析了质子辐射对器件性能的影响机制,探讨了相关防护与加固技术。文章为提升集成电路在空间和高能物理环境中的可靠性提供了理论依据和技术参考。
文档为pdf格式,1.1MB,总共7页。
举报