影响金丝键合拉力的颈部缺陷及基于Arrhenius的加速寿命预计 - 2014`全国半导体器件产业发展、创新产品和新技术研讨会暨第七届中国微纳电子技术交流与学术研讨会.pdf

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2026-1-10 05:20 | 查看全部阅读模式

会议论文《影响金丝键合拉力的颈部缺陷及基于Arrhenius的加速寿命预计》探讨了金丝键合过程中颈部缺陷对拉力的影响，并提出基于Arrhenius方程的加速寿命预测方法。该研究有助于提高半导体封装可靠性，为产品质量控制提供理论依据。

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