会议论文《基于狭缝光照明的偏光片外观缺陷检测技术》发表于第十三届全国敏感元件与传感器学术会议。该文提出一种利用狭缝光照明技术进行偏光片外观缺陷检测的方法，通过优化光源结构和图像处理算法，提高了缺陷识别的准确率和效率，为光电显示领域提供了新的检测思路和技术支持。
文档为pdf格式，1.22MB，总共5页。
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