会议论文《双极型晶体管强电磁脉冲损伤模型与仿真分析》探讨了强电磁脉冲对双极型晶体管的损伤机制。通过建立物理模型并进行仿真分析，研究者深入分析了电磁脉冲作用下晶体管的失效过程。该文为电子设备的抗电磁干扰设计提供了理论依据和技术支持，具有重要的工程应用价值。
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