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本文介绍了一种10读6写寄存器文件的抗辐射加固设计，旨在提高在高辐射环境下的可靠性。该设计通过采用冗余结构和错误检测机制，有效增强了寄存器文件的抗辐射能力。论文提出了具体的电路实现方案，并进行了仿真验证，结果表明该设计在保持高性能的同时，显著提升了系统的稳定性和安全性，适用于航天和军事等对可靠性要求高的领域。 文档为pdf格式，1.07MB，总共3页。
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- 一种10读6写寄存器文件的抗辐射加固设计 - 第十六届计算机工程与工艺年会暨第二届微处理器技术论坛.pdf ...
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