折叠式共源共栅运算放大器的SET效应分析 - 第十六届计算机工程与工艺年会暨第二届微处理器技术论坛.pdf

本文针对折叠式共源共栅运算放大器中的单粒子翻转（SET）效应进行分析。通过仿真与实验，研究了SET对电路性能的影响，探讨了不同工艺参数和工作条件下的敏感性。文章提出了有效的抗辐射设计方法，为提高集成电路在恶劣环境下的可靠性提供了理论依据和技术支持。

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2025-12-14 17:47 上传 折叠式共源共栅运算放大器的SET效应分析 - 第十六届计算机工程与工艺年会暨第二届微处理器技术论坛.pdf

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