该论文介绍了基于透射电镜（TEM）和扫描电镜（SEM）的原位纳微操纵及电力学测量系统。通过集成精密操控装置与电学测试模块，实现了在高分辨电子显微镜下对纳米材料的实时操作与性能分析。系统可应用于材料科学、纳米技术等领域，为研究微观结构与物理性质之间的关系提供了有力工具。
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