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GD08-016两种氧化方法对InSb探测器钝化效果的研究 - 第10届全国光电技术学术交流会.pdf

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2025-12-14 14:41 | 查看全部阅读模式

论文《GD08-016两种氧化方法对InSb探测器钝化效果的研究》探讨了不同氧化工艺对InSb探测器性能的影响。通过对比分析，研究揭示了两种氧化方法在钝化效果上的差异，为提高InSb探测器的稳定性和可靠性提供了理论依据和技术支持。

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GD08-016两种氧化方法对InSb探测器钝化效果的研究 - 第10届全国光电技术学术交流会

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