论文《运算放大器失效原因分析》发表于2011年第十四届全国可靠性物理学术讨论会,主要探讨了运算放大器在实际应用中出现的失效问题。文章分析了多种失效模式,包括热应力、电应力及材料老化等因素对器件性能的影响,提出了相应的失效机理和预防措施,为提高运算放大器的可靠性和使用寿命提供了理论依据和技术支持。
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