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论文《边界扫描技术及其在芯片测试中的应用》介绍了边界扫描技术的基本原理及其在现代芯片测试中的重要作用。该技术通过标准接口实现对芯片引脚状态的精确控制与检测，提高了测试效率和故障诊断能力。文章结合实际案例，分析了该技术在复杂集成电路测试中的应用优势，为电子测量与仪器领域提供了有价值的参考。 文档为pdf格式，0.18MB，总共6页。
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- 边界扫描技术及其在芯片测试中的应用 - 四川省电子学会电子测量与仪器专委会第十五届学术年会.pdf ...
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