自保持接口在模拟芯核虚数字化测试中的优化研究 - 第十四届全国容错计算学术会议.pdf

论文《自保持接口在模拟芯核虚数字化测试中的优化研究》发表于第十四届全国容错计算学术会议。该文针对模拟芯核的测试问题，提出一种基于自保持接口的虚数字化测试方法。通过优化接口设计，提高了测试效率与准确性，增强了系统的容错能力，为复杂集成电路的测试提供了新思路。

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2025-12-14 09:05 上传 自保持接口在模拟芯核虚数字化测试中的优化研究 - 第十四届全国容错计算学术会议.pdf

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