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论文《晶体晶片的测试技术》由中国计量协会冶金分会冶炼传感器专委会2011年年会及技术交流会发表。文章主要探讨了晶体晶片在工业应用中的测试方法与技术，分析了不同测试手段的优缺点及其适用范围。通过对测试设备、测量精度和数据处理等方面的深入研究，提出了提高测试效率和准确性的建议，对推动相关领域的技术进步具有重要意义。 文档为pdf格式，0.19MB，总共3页。
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- 晶体晶片的测试技术 - 中国计量协会冶金分会冶炼传感器专委会2011年年会及技术交流会.pdf ...
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