星载电子设备FPGA的抗单粒子翻转设计 - 2011第十四届全国可靠性物理学术讨论会.pdf

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2025-12-14 06:17 | 查看全部 阅读模式

论文《星载电子设备FPGA的抗单粒子翻转设计》探讨了在空间环境中,FPGA因单粒子翻转(SEU)导致的故障问题。文章分析了SEU对FPGA的影响,并提出了一系列抗干扰设计方法,如冗余设计、错误检测与纠正技术等,以提高星载设备的可靠性。该研究为提升航天电子系统的稳定性提供了重要参考。

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星载电子设备FPGA的抗单粒子翻转设计 - 2011第十四届全国可靠性物理学术讨论会
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