论文《大规模集成电路征兆测试新方法》发表于第十四届全国容错计算学术会议，提出了一种针对大规模集成电路的新型征兆测试方法。该方法通过分析电路运行中的异常征兆，提高故障检测的准确性与效率。研究结合了先进的算法与测试技术，有效提升了集成电路的可靠性和稳定性，为容错计算领域提供了新的思路和解决方案。
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