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外延GaN晶体温度特性与高温动态测温研究 - 2011’全国半导体器件产业发展、创新产品和新技术研讨会.pdf

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论文《外延GaN晶体温度特性与高温动态测温研究》探讨了GaN晶体在不同温度下的性能变化及其动态测温方法。研究针对高温环境下GaN器件的稳定性与可靠性问题，提出了一种有效的高温动态测温技术，为半导体器件在高温应用中的性能评估提供了理论依据和技术支持。

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外延GaN晶体温度特性与高温动态测温研究 - 2011’全国半导体器件产业发展、创新产品和新技术研讨会

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