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论文《基于退化数据的寿命评估在元器件中的应用》探讨了如何利用退化数据对电子元器件的寿命进行有效评估。该文针对元器件在使用过程中的性能退化现象，提出了一种可靠性分析方法，提高了寿命预测的准确性。文章结合实际案例，验证了该方法的可行性与实用性，为元器件的可靠性设计和寿命管理提供了理论支持和技术参考。 文档为pdf格式，0.51MB，总共6页。
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- 基于退化数据的寿命评估在元器件中的应用 - 2011第十四届全国可靠性物理学术讨论会.pdf ...
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