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论文《基于电学参数退化的微电子器件失效激活能评估新方法》提出了通过分析电学参数退化来评估微电子器件失效激活能的新方法。该方法结合可靠性物理理论与实验数据，为器件寿命预测提供了更准确的依据。研究在2011年第十四届全国可靠性物理学术讨论会上发表，对提高电子器件可靠性具有重要意义。 ","role":"assistant文档为pdf格式，0.17MB，总共4页。
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- 基于电学参数退化的微电子器件失效激活能评估新方法 - 2011第十四届全国可靠性物理学术讨论会.pdf ...
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