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论文《基于多路复用的老化预测电路设计研究》提出了一种利用多路复用技术实现老化预测的电路设计方案。该研究针对集成电路在长期运行中的性能退化问题，通过优化电路结构提升预测精度与效率。文章结合容错计算理论，验证了所设计电路在复杂环境下的可靠性与稳定性，为提高系统寿命和安全性提供了新思路。 ","role":"assistant文档为pdf格式，0.39MB，总共7页。
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- 基于多路复用的老化预测电路设计研究 - 第十四届全国容错计算学术会议.pdf
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