基于IEEE Std 1149.7的TAPC及其在SoC测试的应用 - 第二十届全国测试与故障诊断技术研讨会.pdf

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2025-12-14 03:31 | 查看全部阅读模式

论文《基于IEEE Std 1149.7的TAPC及其在SoC测试的应用》探讨了TAPC（Test Access Port Controller）在SoC测试中的应用。文章基于IEEE Std 1149.7标准，分析了TAPC的功能与实现方式，提出了优化的测试架构，提升了SoC的测试效率和可测试性。该研究为现代集成电路的测试提供了理论支持和技术参考。

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基于IEEE Std 1149.7的TAPC及其在SoC测试的应用 - 第二十届全国测试与故障诊断技术研讨会

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