基于BIT的自动测试系统研究 - 第二十届全国测试与故障诊断技术研讨会.pdf

论文《基于BIT的自动测试系统研究》探讨了内置自测试（BIT）技术在自动测试系统中的应用。文章分析了BIT的功能和实现方法，提出了提高系统测试效率和可靠性的解决方案。通过实验验证，该研究证明了基于BIT的自动测试系统在故障检测与诊断中的有效性，为相关领域的技术发展提供了理论支持和实践参考。

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2025-12-14 03:26 上传 基于BIT的自动测试系统研究 - 第二十届全国测试与故障诊断技术研讨会.pdf

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