双极型模拟集成电路抗辐射加固技术 - 第十七届全国半导体集成电路、硅材料学术会议.pdf

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论文《双极型模拟集成电路抗辐射加固技术》探讨了在辐射环境下提高双极型模拟集成电路可靠性的方法。文章分析了辐射对器件性能的影响，提出了一系列加固技术，包括结构设计优化和材料选择。研究为高可靠性电子系统提供了理论支持和技术参考，具有重要的工程应用价值。

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双极型模拟集成电路抗辐射加固技术 - 第十七届全国半导体集成电路、硅材料学术会议

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