论文《单粒子效应误差注入仿真技术研究》探讨了单粒子效应在电子系统中的影响及仿真方法。通过误差注入技术,研究者能够模拟单粒子事件对电路的干扰,评估系统的可靠性。该文为提高电子设备抗辐射能力提供了理论支持和实践指导,适用于航天、军事等高可靠性领域。
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