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本文提出一种基于时序拆借的抗老化BIST设计，旨在提高芯片测试效率和可靠性。通过引入时序拆借技术，优化测试模式生成与执行过程，有效降低测试时间并提升故障覆盖率。该设计针对老化效应进行抗干扰处理，增强测试结果的准确性。研究成果适用于先进工艺下的集成电路测试，为实现高效、可靠的片上自测试提供新思路。 文档为pdf格式，0.88MB，总共6页。
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- 一种基于时序拆借的抗老化BIST设计 - 第十七届全国半导体集成电路、硅材料学术会议.pdf ...
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