YST 644-2007 铂钌合金薄膜测试方法 X射线光电子能谱法 测定合金态铂及合金态钌含量

铂钌合金薄膜测试方法X射线光电子能谱法测定合金态铂及合金态钌含量
DeterminationmethodofPt-Rnalloyfilm.DeterminationofalloyedPtcontentandalloyedRncontentbyX-rayphotoelectronspectroscopy

摘要:本标准规定了铂钉（Pt-Ru）合金薄膜材料中合金态铂及合金态钌含量（质量分数）的测定方法。本标准适用于铂钌合金薄膜材料中合金态铂及合金态钌质量分数的测定，也可适用于各种铂合金薄膜材料中合金态铂质量分数及其他合金态金属质量分数的测定。测定范围：合金态铂质量分数不小于3%，合金态钌质量分数不小于3%。本标准不适用于单层厚度不大于10nm的层状薄膜。

标准编号：YS/T644-2007
标准类型：
发布单位：CN-YS
发布日期：2007年1月1日
强制性标准：否
实施日期：2007年1月1日
关键词：铂钌合金,薄膜测试方法,X射线光电子能谱法,测定,合金态铂,合金态钌,含量,PLATINUMALLOYS,PLATINUM,RUTHENIUM,CONTENTDETERMINATION,CONTENTDETERMINATIONS,DETERMINATIONOFCONTENT,X-RAYS,XRAYS,X-RAY,ALLOYS,ALLOY

YS/T 644-2007 铂钌合金薄膜测试方法 X射线光电子能谱法 测定合金态铂及合金态钌含量.pdf

2024-9-22 20:04 上传 YST 644-2007 铂钌合金薄膜测试方法 X射线光电子能谱法 测定合金态铂及合金态钌含量.pdf

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