基于AR-TFM方法的超声成像分辨力提升

基于AR-TFM方法的超声成像分辨力提升
摘要：将多频带自回归(AR)谱外推和全聚焦方法(TFM)相结合，提出了一种AR-TFM方法，可将超声成像分辨力从波长级提升至亚波长级。采用基于高阶累积量的奇异值分解方法确定AR阶数，选择多组有效频带外推处理全矩阵数据中的阵列信号，并对结果进行平均加权，最后实施延时叠加和逐点成像，提高该方法的适用性和鲁棒性。分别采用TFM和AR-TFM方法对碳钢试块进行检测，并对其检测结果进行对比。仿真和试验结果表明，AR-TFM方法能够突破瑞利准则的限制，有效提高超声成像分辨力，实现了碳钢试块3个中心距为0.7λ(λ为超声波长)的相邻圆孔的分离，缺陷深度定位误差不超过1.8%，中心距定位误差不超过15%。

标题：基于AR-TFM方法的超声成像分辨力提升

作者：史思琪,林莉,严宇,廖静瑜,张晓峰,杨会敏,金士杰,

关键词：自回归谱外推,全聚焦方法,成像分辨力,AR-TFM,

发表日期：2021年12月

2025-1-19 14:51 上传 基于AR-TFM方法的超声成像分辨力提升.pdf

文件大小:

1.17 MB

下载次数:

60

高速下载