相控阵超声扇形扫描影响因素分析

相控阵超声扇形扫描影响因素分析
摘要：为提高缺陷检测时相控阵超声扇扫成像的质量，分析了影响成像质量的因素，研究了焦距、偏转角度及孔径对成像质量的影响，采用控制变量法进行了试验验证并分析了试验结果。研究结果对优化相控阵超声扇形扫描参数设置，提高成像质量具有参考意义。

标题：相控阵超声扇形扫描影响因素分析

作者：祝清华,张会新,严帅,郝现伟,

关键词：相控阵超声,焦距,偏转角度,孔径,控制变量,

发表日期：2021年11月

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