相控阵超声检测缺陷识别与分类研究进展

相控阵超声检测缺陷识别与分类研究进展
摘要：相控阵超声技术是近年来无损检测领域的重点研究方向之一，已经取得了飞速发展，其中基于相控阵超声成像的缺陷识别与分类是研究的热点之一。概述了相控阵超声无损检测的基本原理，介绍了具有代表性的缺陷识别与分类算法，包括支持向量机、人工神经网络、遗传算法、神经进化算法和基于深度学习的算法。最后指出了现有缺陷识别与分类算法面临的挑战，并结合实际提出了相控阵超声缺陷识别与分类的发展方向。

标题：相控阵超声检测缺陷识别与分类研究进展

作者：刘春华,周长霖,陈晓辉,陈钦,

关键词：相控阵超声,超声无损检测,超声成像,缺陷识别与分类,

发表日期：2023年12月

2025-1-19 14:22 上传 相控阵超声检测缺陷识别与分类研究进展.pdf

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