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[金属工艺] 基于CMOS探测器的环焊缝检测系统设计

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2025-1-19 13:57 | 查看全部阅读模式

基于CMOS探测器的环焊缝检测系统设计针对常规X射线照相检测技术检测环焊缝时工作效率低的问题，结合数字成像技术的发展，利用空间分辨率较高的CMOS成像面板，拆除成像板中的扫描驱动机构，重新设计检测系统，对环焊缝进行数字化扫描检测，从而快速、高质量地完成环焊缝的射线检测工作。

标题：基于CMOS探测器的环焊缝检测系统设计

作者：马文进,

关键词：环焊缝,扫描检测,CMOS探测器,

发表日期：2013年1月

2025-1-19 13:57 上传

基于CMOS探测器的环焊缝检测系统设计.pdf

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基于, CMOS, 探测器, 焊缝, 检测系统

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