文档名：集成电路传导抗扰度测试方法研究
随着集成电路快速发展,电路的工作频率越来越高,电源电压越来越低,芯片规模越来越大,芯片制造工艺的特征尺寸越来越小,使得芯片级电磁兼容显得尤其突出.本文针对集成电路电磁抗扰度的测试技术,重点对大电流注入法、直接射频功率注入法和法拉第笼法的基本原理、试验配置和试验程序等进行了介绍,并根据工程实践对测试流程、测试评估及注意事项进行了讨论.
作者：胡哲李建强符荣杰李杰伟
作者单位：北京智芯微电子科技有限公司,国家电网公司重点实验室电力芯片设计分析实验室,北京100192;北京智芯微电子科技有限公司,北京市电力高可靠性集成电路设计工程技术研究中心,北京100192
母体文献：中国电子学会可靠性分会第二十届可靠性物理年会论文集
会议名称：中国电子学会可靠性分会第二十届可靠性物理年会
会议时间：2018年10月1日
会议地点：广州
主办单位：中国电子学会
语种：chi
分类号：TN0TM9
关键词：集成电路 传导抗扰度 大电流注入法 直接射频功率注入法 法拉第笼法 测试流程
在线出版日期：2021年12月15日
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