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    [SJ电子] SJ 20789-2000 MOS场效应晶体管热敏参数快速筛选试验方法

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    2026-1-6 13:43 | 查看全部 阅读模式
    MOS场效应晶体管热敏参数快速筛选试验方法
    RapidscreeningtestmethodsforThermalsensitiveparameterofMOSfieldeffecttransistor

    摘要:本规范规定了MOS场效应晶体管热敏参数快速筛选的试验方法。本规范适用于MOS场效应晶体管热敏参数快速筛选。

    标准编号：SJ20789-2000
    标准类型：
    发布单位：CN-SJ
    发布日期：2000年1月1日
    强制性标准：是
    实施日期：2000年1月1日
    关键词：晶体管,热敏参数,筛选试验,试验方法

    SJ 20789-2000 MOS场效应晶体管热敏参数快速筛选试验方法.pdf
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    热敏, 晶体管, 筛选, 效应, 参数
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