会议论文《集成电路高温动态老化系统校准方法研究》发表于第六届全国信息获取与处理学术会议。该文针对集成电路在高温环境下动态老化过程中的系统校准问题进行深入探讨，提出了一种有效的校准方法，以提高老化测试的准确性和可靠性，对提升集成电路性能评估具有重要意义。
文档为pdf格式，0.55MB，总共4页。
举报
