退火温度和匀胶速率对SrBi3.88Nd0.12Ti4O15薄膜铁电性能的影响 - 第十五届全国高技术陶瓷学术年会.pdf

11 0
2026-1-12 18:39 | 查看全部 阅读模式

本文研究了退火温度和匀胶速率对SrBi3.88Nd0.12Ti4O15薄膜铁电性能的影响。通过调整退火温度和匀胶速率,发现薄膜的铁电性能显著变化。适当的退火温度可提高结晶质量,而合理的匀胶速率有助于获得均匀薄膜。实验结果表明,最佳工艺参数可显著提升薄膜的剩余极化强度和矫顽场,为铁电材料的应用提供参考。

文档为pdf格式,0.19MB,总共3页。

退火温度和匀胶速率对SrBi3.88Nd0.12Ti4O15薄膜铁电性能的影响 - 第十五届全国高技术陶瓷学术年会
文件大小:
194.56 KB
高速下载
2026 资料下载 联系邮件:1991591830#qq.com 浙ICP备2024084428号-1