会议论文《纳米阻抗显微镜的研制及商品化》介绍了基于纳米技术的新型显微镜设备，用于高精度测量材料表面的电学性质。该研究在第七届中国国际纳米科技（武汉）研讨会上展示，重点阐述了仪器的原理、设计及实际应用，为纳米尺度下的材料分析提供了有力工具，并推动了相关技术的商品化进程。
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