会议论文《红外多光谱测量仪杂散辐射分析》在第二届红外成像系统仿真、测试与评价技术研讨会上发表。该文针对红外多光谱测量仪中的杂散辐射问题进行深入研究，分析了其来源及对测量精度的影响，提出了有效的抑制方法。研究成果对于提高红外成像系统的性能和可靠性具有重要意义。
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