2008年中国平板显示学术会议上发表的会议论文《氢退火对氧化锌薄膜晶体管性能的影响》，研究了氢气退火处理对氧化锌薄膜晶体管电学性能的影响。实验结果表明，氢退火可以有效改善薄膜的晶体结构，降低缺陷密度，从而提升器件的迁移率和稳定性。该研究为氧化锌薄膜晶体管的优化提供了重要参考。
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