会议论文《氧化锌压敏电阻的老化机理》探讨了氧化锌压敏电阻在长期使用过程中的性能退化原因。文章分析了温度、电压及环境因素对材料微观结构的影响，揭示了老化过程中晶界层的变化机制。研究为提高压敏电阻的稳定性和寿命提供了理论依据，对相关领域的应用具有重要指导意义。
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