会议论文《模拟短路环境样品的AES深度分析》发表于2008年中国机械工程学会年会暨甘肃省学术年会。该文通过AES(俄歇电子能谱)技术对模拟短路环境下样品的表面成分进行深度分析,探讨了短路对材料表面化学状态的影响,为电气设备故障分析与材料防护提供了理论依据。
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