会议论文《扫描探针显微镜针尖电容的测量与应用》由电子科技大学电子科学技术研究院第四届学术会议发表，探讨了扫描探针显微镜中针尖电容的测量方法及其在纳米尺度检测中的应用。该研究对提高扫描探针显微镜的精度和分辨率具有重要意义，为相关领域的技术发展提供了理论支持。
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