工业γ-CT中后准直器实验研究 - 第十四届全国核电子学与核探测技术学术年会.pdf

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2026-1-12 13:22 | 查看全部 阅读模式

会议论文《工业γ-CT中后准直器实验研究》发表于第十四届全国核电子学与核探测技术学术年会。该文针对工业用γ-CT系统中的后准直器进行了实验分析,探讨了其对成像质量的影响。研究通过实际测试,验证了不同结构参数的后准直器在分辨率和信噪比方面的表现,为优化工业γ-CT系统设计提供了理论依据和技术支持。

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工业γ-CT中后准直器实验研究 - 第十四届全国核电子学与核探测技术学术年会
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