会议论文《基于微电子标准样片量值传递方法研究》探讨了在微电子领域中如何通过标准样片实现量值的准确传递。该研究针对微电子器件计量需求,提出了一种有效的量值传递方法,提升了测量精度与一致性。文章结合实际应用,分析了标准样片在不同测试环境下的性能表现,为微电子计量技术的发展提供了理论支持和实践指导。
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