会议论文《基于V93000的高速模数转换芯片静态性能测试与分析》探讨了利用V93000测试平台对高速模数转换芯片进行静态性能评估的方法。文章详细分析了分辨率、线性度和失调误差等关键参数，为提升芯片测试精度提供了理论依据和技术支持，对微电子测试技术的发展具有重要意义。
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